内容简介
广泛应用于民用和工业领域的基于SRAM的FPGA，因其逻辑集成度高、使用方便、开发成本低且能够被重新编程，正逐步应用于空间领域。空间领域的应用除了要求其具有很高的可靠性以外，抗辐射是必须重点考虑的问题。《基于SRAM的FPGA容错技术》针对这种需求，尤其是针对空间环境中单粒子效应的影响，详细介绍了基于SRAM的FPGA这种可编程结构的多种容错技术和方法。
《基于SRAM的FPGA容错技术》提及的技术和方法多是从实际容错系统中总结出来的，并进行了归类、分析和总结，同时附有参考文献。内容详尽丰富，实践
目录
第1章 引言
第2章 集成电路中的辐射效应
2.1 辐射环境概述
2.2 集成电路中的辐射效应
2.2.1 SEU的分类
2.3 基于SRAM的FPGA的特有影响
第3章 单粒子翻转(SEU)减缓技术
3.1 基于设计的技术
3.1.1 检测技术
3.1.2 减缓技术
3.2 ASIC中SEU减缓技术实例
3.3 FPGA中SEU减缓技术实例
3.3.1 基于反熔丝的FPGA
3.3.2 基于SRAM的FPGA
第4章 结构层SEU减缓技术
第5章 高层SEU减缓技术
5.
试读
容错技术的开发与目标器件紧密相关，需要详细分析相关系统结构中的翻转效应。对于每一种电路，有其最适合的解决方法。在过去的几年中，集成电路工业为了追求更好的性能、更高的逻辑密度和更低的成本而使其结构越来越复杂，例如应用专用集成电路（ASIC），有数百万个晶体管的微处理器，高密度现场可编程门阵列（FPGA）组件以及最新的由嵌入式微处理器、存储器和模拟电路块组成的片上系统（SOC）。这些在单一芯片上提供大量信息处理能力的结构，给系统设计带来了重大的影响。它们的用途涵盖了广泛的应用领域，从便携系统到专用嵌入控制
前言/序言
本书介绍了用于可编程结构的多种容错技术，这种可编程结构就是著名的现场可编程门阵列（FPGA），通过静态随机访问存储器（SRAM）可进行用户定制。由于其具有信息密度大、性能高、开发成本较低及可重新编程的特性，FPGA在空间领域具有越来越多的应用价值。特别是基于SRAM的FPGA，对远距离任务很有价值，因为它能让用户在很短的时间间隔内任意多次重新编程。基于SRAM的FPGA和微控制器，是应用在空间领域众多器件的突出代表，也是本书重点讨论的内容，更具体的是指赛灵思公司（Xilinx）的Virtex系列和英特
