内容简介
本书系统阐述硅后验证和SoC调试中所面临的关键挑战、前沿技术与最新研究进展,旨在显著提升验证效率并降低调试成本。<BR> 本书汇集了硅后验证和调试专家的研究成果:第1章概述SoC设计方法学,并强调硅后验证和调试所面临的挑战;第2~6章描述设计调试架构的有效技术,包括片上设备和信号选择;第7~10章介绍生成测试和断言的有效技术;第11~15章提供自动化方法,用于定位、检测和修复硅后错误;第16~17章描述两个案例研究(NoC和IBM POWER8处理器);第18章讨论设计调试与安全漏洞之间的内在冲突;第19章展望硅后验证与调试的未来发展趋势和潜在突破方向。<BR>